絶縁空間は 2 つの導電性構成部品間の電気的絶縁であり、沿面漏れは非導電性構成部品の表面における電気伝導です。クリアランスおよび沿面距離は、電気アセンブリを設計する上で重要なパラメータです。クリアランス解析と沿面距離解析では、測定されたクリアランスまたは沿面距離が、クリアランスまたは沿面距離の指定されたしきい値と比較されます。

構成部品、キルト、またはネット間のクリアランスおよび沿面距離を解析できます。複数の構成部品をネットにグループ化し、ネットペアについて解析を実行できます。構成部品やキルトのペアに対して直接解析を実行することもできます。導電面と非導電面の両方を持つヒューズなどの構成部品には、キルトを含めることで、構成部品の解析を正確に行うことができます。

Clearance and Creepage Analysis は次の 4 つのステージからなります。

この解析は、アセンブリに関する次の仮定に基づいています。