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サーフェスの曲率を表示するには
1. 「解析」(Analysis) > 「曲率」(Curvature) の順にクリックします。「曲率」(Curvature) ダイアログボックスが開きます。「簡易」(Quick) がデフォルトの解析タイプです。
2. 「ジオメトリ」(Geometry) コレクターをクリックし、解析するオブジェクトの 1 つ以上のサーフェスまたはキルトを選択します。選択したエンティティの名前が「ジオメトリ」(Geometry) コレクターに表示されます。
選択したサーフェスの最小曲率と最大曲率が計算され、「曲率」(Curvature) ダイアログボックスの下部にある結果領域に表示されます。サーフェスの曲率プロットが Creo Parametric のグラフィックウィンドウに表示されます。
 
*注記 コレクターの内容を消去するには、コレクター内で右クリックし、ショートカットメニューの「除去」(Remove) を選択します。コレクターで、参照ジオメトリまたは参照座標系を続けて選択できます。
3. 「サンプル」(Sample) ボックスの「間隔」(Spacing) を選択し、第 1 方向と第 2 方向のメッシュラインの間隔を指定します。「サンプル」(Sample) ボックスの「数」(Number) をクリックして第 1 方向と第 2 方向のメッシュラインの数を指定することもできます。
4. 「OK」をクリックして解析を実行するか、「キャンセル」(Cancel) をクリックして解析をキャンセルします。あるいは、「繰り返し」(Repeat) をクリックして新しい解析を開始します。
5. オプションとして、解析を保存したり解析フィーチャーを作成したりするには、次の手順を実行します。
a. 「曲率」(Curvature) ダイアログボックスの下部にあるリストから、解析のタイプを選択します。
b. モデルとともに解析を保存し、モデリング中に解析を表示して動的に更新するには「保存済み」(Saved) を選択します。解析フィーチャーを作成するには、「フィーチャー」(Feature) を選択します。
c. 必要に応じて、リストの横にあるボックスで解析名を変更します。
6. オプションとして、解析をカスタマイズまたは編集するには、次の手順を実行します。
a. 「座標系」(CSYS) コレクターをクリックして参照座標系を選択します。
b. 「プロット」(Plot) ボックスで、プロットのタイプとして「曲率」(Curvature) または「法線」(Normal) を選択します。「曲率」(Curvature) がデフォルトです。
「曲率」(Curvature) - 選択したカーブまたはエッジに沿って曲率を評価し、プロットします。単一サーフェスでは、両方向のサーフェスの曲率をアイソラインとして評価およびプロットします。
「法線」(Normal) - 単一のサーフェスを評価し、サーフェスの法線を両方向にアイソラインとしてプロットします。
c. 「サンプル」(Sample) ボックスで、サンプリングのタイプとして「精度」(Quality)「数」(Number)、または「ステップ」(Step) を選択し、第 1 方向の曲率をプロットします。「精度」(Quality) がデフォルトです。スライダーを使用してサンプルの値を調整します。
 
*注記 サンプルの数は 1 より大きくなければならず、ステップの増分値はモデル単位の 0.001 よりも大きくなければなりません。
d. 「2 番目の精度」(2nd Quality)「2 番目の数」(2nd Number)、または「2 番目のステップ」(2nd Step) のサンプルの値および第 2 方向のスケールを調整します。これらのオプションは、「サンプル」(Sample) ボックスで選択した値に応じて使用可能になります。
e. サムホイールを使用してプロットのスケールを調整するか、「スケール」(Scale) ボックスに値を入力します。カーブまたはエッジのハンドルを使用してスケールを調整することもできます。
f. プロットスタイルを選択します。
 
*注記 「法線」(Normal) タイプのプロットではプロットスタイルを指定できません。
g. デフォルトで「更新」(Update) が選択されます。選択や変更の影響を解析プロットでただちに確認できます。「更新」(Update) チェックボックスをオフにして複数の解析オプションを選択または調整し、「プレビュー」(Preview) をクリックして解析結果を表示します。