計測計画は、設計モデルの検査方法を指定します。計測計画には多量の計測が含まれることがあり、グループ化することで効率が向上します。計測をグループ化すれば、複雑なプロセスの追跡や管理も容易になります。

Annotation (ここでは寸法) のグループ化は、3D Documentation モジュールで実行します。このモジュールを使用すると、計測 Annotation を階層的に グループ化できます (グループがツリー ノードに当たり、計測 Annotation がツリーの葉に当たるツリー構造)。設計によっては、計測の実行順序が重要になる場合があり、またそうでない場合もあります。測定モジュールを使えば、1 つの Annotation グループ内で、シーケンスの詳細を指定できます。

計測が目的で作成されるグループには、共通のオーナ (パーツまたはアセンブリ) を 持つ Annotation のみが含まれます。グループ化は、クラス (例: 第一測定、QA)、計測の手段 (例: マニュアル、CMM、スキャニング)、構成 (例: フィクスチャ、CMM 設定) などが異なる計測を同時に行うために行われます。また、計測計画そのものもグループになります。

グループ化の詳細については、3D 文書を参照してください。

計測は、3D Documentation モジュールで利用できる標準のグループ操作機能によってグループに割り当てられます。しかし、測定モジュールもまた、特定の計測準備機能を提供しています。これにより、主に計測計画で使用するために設けられた Annotation グループの管理が効率的になります。

測定エンジニアは、各計測グループで使用するために (追加の) 座標系を定義できます。通常、CMM マシンへのパーツの置き方が座標系の定義に影響します。階層構造になっているグループがそれぞれ自身の座標系を持つこともありますが、どのレベルにあるグループでもその上位グループに定義されていた座標系の影響は受けません。

計測点は、計測 Annotation に関連付けられた面の境界内、または、オーナが同じほかの面上に存在する必要があります。この要件を満たさない計測点を選択した場合は、確認の画面が表示されます。確認後、指定した Annotation に追加の面が関連付けられます。

3D Annotationでは、元面およびターゲット面上の点は別個のセットになります (前述)。GD&T 集合体では、関連付けられた面は GD&T 公差によって制御されており、 これは単一の面か面パターンになります。デフォルトでは、計測点は可能なら共有 されます。すなわち、2 つの異なる寸法が 1 つの面の制御に使用される場合、計測点は共有されます。しかし、この場合は独立計測点のセットを定義することも できます。

3D 注記では、計測点を参照面上に作成し、複数の面を参照することもできます (複数の面のための計測点のセットが、別の Annotation によって共有されることは ありません)。3D 注記が稜線や頂点を参照する場合、計測点は作成できません。

計測点は、面上で位置を選択するか、面セット (面上に等しく分散する点がいくつ必要かを指定)、既存の集合体の点を参照することによって作成できます。また、2 つの構造線の交点などによるキャッチ機構を使って面上の位置を選択して、精密に位置指定された計測点を作成することもできます。

計測点には、以下のプロパティがあります。

これらのデータはすべて、測定モジュールのダイアログによって定義できますが、グラフィカルブラウザを利用して計測計画データを測定することもできます。ブラウザは、階層やシーケンスを視覚化するのに効果的で、またダイアログから実行するいくつかの操作を開始させるショートカットにもなります。