Definizione semplificata dei metadati nell'analisi della distanza e del creepage
In Clearance and Creepage Analysis (CCX), è disponibile una nuova interfaccia utente per la definizione dei metadati.
Posizione nell'interfaccia utente: fate clic su Analisi (Analysis) > Analisi distanza e creepage (Clearance and Creepage Analysis).
Release: Creo Parametric 5.0.0.0
Guardate un video che illustra questo miglioramento.
Qual è il vantaggio di questo miglioramento?
È possibile fare clic con il pulsante destro del mouse per accedere ai menu di scelta rapida nell'area grafica e nella finestra di dialogo. In questo modo risparmiate tempo e migliorate le prestazioni. È inoltre possibile fare clic con il pulsante destro del mouse quando si selezionano più elementi nell'area grafica e nella finestra di dialogo. Nell'area grafica, è possibile isolare le parti a cui non è assegnato un valore CTI ed evidenziare le parti in base alla conduttività. Ciò semplifica la convalida dell'impostazione dei metadati.
Informazioni aggiuntive
Suggerimenti | Nessuna |
Limitazioni | Non sono note limitazioni. |
Sostituisce la funzionalità esistente? | Si tratta di una nuova funzionalità. |
Opzioni di configurazione associate a questa funzionalità | Nessuna |