幾何累積誤差分析模型利用統計學的原理來放寬元件公差，同時又能顧及品質的要求。每個元件的誤差都會建模為幾何累積分佈，而這些分佈加在一起可預測組件量測的分佈。因此，幾何累積誤差分析所預測的分佈情形能夠說明組裝量測誤差，但不能說明該誤差的極限值。此分析模型能讓設計人員設計出任何品質水準 (不只是 100%) 的產品，進而提高設計的靈活度。