统计偏差分析模型充分利用了统计学的原理，可以在兼顾质量的情况下放宽元件公差限制。以统计分布形式对每个元件的偏差进行建模，并通过对这些分布求和来预测装配测量的分布。因此，统计偏差分析可预测分布情况，它可以描述装配测量偏差，但不能描述该偏差的极限值。利用此分析模型，设计人员可以设计出任何质量级别 (不只是 100%) 的产品，从而提高设计弹性。