關於掃描使用者介面
「掃描」(Sweep) 標籤由指令、標籤及捷徑功能表組成。按一下 > 
「掃描」(Sweep) 可開啟「掃描」(Sweep) 標籤。
「掃描」(Sweep) 可開啟「掃描」(Sweep) 標籤。指令
• 「類型」(Type)
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「實體」(Solid) - 建立實體特徵。
「實體」(Solid) - 建立實體特徵。◦ 
「曲面」(Surface) - 建立曲面特徵。
「曲面」(Surface) - 建立曲面特徵。• 「截面」(Section)
◦ 
「草繪」(Sketch) - 開啟內部草繪器以建立或編輯掃描橫截面。
「草繪」(Sketch) - 開啟內部草繪器以建立或編輯掃描橫截面。• 設定
◦ 
「移除材料」(Remove Material) - 沿掃描移除材料，以針對實體特徵建立切削，或針對曲面特徵建立面組裁剪。
「移除材料」(Remove Material) - 沿掃描移除材料，以針對實體特徵建立切削，或針對曲面特徵建立面組裁剪。▪ 「實體」(Solid)
「實體」(Solid)▪ 
- 將移除材料的側從一側反向至另一側。
- 將移除材料的側從一側反向至另一側。▪ 「曲面」(Surface)
「曲面」(Surface)▪ 
- 切換要移除材料的側：從草繪的一側、另一側或兩側均保留。
- 切換要移除材料的側：從草繪的一側、另一側或兩側均保留。▪ 「面組」(Quilt) 收集器 - 收集要從中移除材料的面組。
▪ - 當從面組兩側移除材料時，反向此面組將保留原始面組之標識的側。
- 當從面組兩側移除材料時，反向此面組將保留原始面組之標識的側。◦ 
「加厚草繪」(Thicken Sketch) - 將厚度新增至草繪，以建立薄實體、薄實體切削，或薄曲面裁剪。
「加厚草繪」(Thicken Sketch) - 將厚度新增至草繪，以建立薄實體、薄實體切削，或薄曲面裁剪。▪ 「值」(Value) 方塊 - 設定厚度值。
▪ - 在草繪的一側、另一側，或兩側之間切換加厚方向。
- 在草繪的一側、另一側，或兩側之間切換加厚方向。• 「選項」(Options)
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「恆定截面」(Constant Section) - 建立恒定截面掃描。截面不會在沿軌跡掃描時變更其形狀；只有截面所在之畫面的定向會變更。
「恆定截面」(Constant Section) - 建立恒定截面掃描。截面不會在沿軌跡掃描時變更其形狀；只有截面所在之畫面的定向會變更。◦ 
「可變截面」(Variable Section) - 建立可變截面掃描。
「可變截面」(Variable Section) - 建立可變截面掃描。將截面限制為軌跡，或使用截面關係與 trajpar 參數來使草繪可變。 用來限制草繪的參照可改變截面形狀。草繪會沿著原點軌跡的點再生並相應更新其形狀。
標籤
•
◦ 軌跡表
▪ 「軌跡」(Trajectories) - 顯示軌跡，包括您選取作為原點的軌跡，並可設定軌跡類型。
▪ X - 將軌跡設定為 x 軌跡。
▪ N - 將軌跡設定為法向軌跡。選取 N 核取方塊後，截面會法向於軌跡。
▪ T - 將軌跡設定為與「側 1」、「側 2」或所選曲面參照相切。
◦ 「詳細資訊」(Details) - 開啟「鏈」(Chain) 對話方塊以修改所選鏈的屬性。
◦ 「截面平面控制」(Section plane control) - 設定如何定向截面平面 (掃描座標系的 z 方向)。
▪ 「法向於軌跡」(Normal To Trajectory) - 截面平面在整個長度上保持法向 (垂直) 於原點軌跡。類屬 (預設) 掃描。
▪ 「法向於投影」(Normal To Projection) - 沿投影方向看去，截面平面與原點軌跡保持相互垂直。z 軸沿指定方向和原點軌跡的投影相切。隨即啟動「方向參照」(Direction reference) 收集器，提示您選擇方向參照。不需進行水平/垂直控制。
▪ 「恆定法向」(Constant Normal Direction) - z 軸與指定方向參照向量平行。隨即啟動「方向參照」(Direction reference) 收集器，提示您選擇方向參照。
◦ 「方向參照」(Direction reference) 收集器 - 當選取「法向於投影」(Normal To Projection) 或「恆定法向」(Constant Normal Direction) 時，顯示平面、軸、座標系軸或直圖元來定義投影方向。「反向」(Flip) 可反轉參照方向。
◦ 「水平/垂直控制」(Horizontal/Vertical control) - 決定如何沿掃描定向圍繞草繪平面之法線的畫面旋轉。
▪ 「自動」(Automatic) - 以 xy 方向定向截面平面。會計算 X 向量的方向，使掃描幾何以最低程度扭轉。「自動」(Automatic) 是不具任何參照曲面之原點軌跡的預設選項。方向參照收集器可讓您定義初始截面或掃描開始處的畫面 x 軸定向。有時必須指定 X 軸方向，例如直線軌跡或軌跡一開始為直線段時。
▪ 「法向於曲面」(Normal to Surface) - 將截面平面的 y 軸設定為法向於原點軌跡所在的曲面。當「原點」軌跡參照是曲面上的一條曲線、曲面的單側邊、曲面的雙側邊或實邊、透過曲面交集所建立的曲線或兩條投影曲線時，此為預設選項。按一下「下一個」(Next) 以移至下一個法向曲面。
▪ 「X 軌跡」(X-Trajectory) - 將截面平面的 x 軸設定為通過指定的 x 軌跡的交點以及沿著掃描的截面平面。
◦ 「在起點上的X方向參照」(X direction reference at start) 收集器 - 當選取「法向於軌跡」(Normal To Trajectory) 或「恆定法向」(Constant Normal Direction) 時，顯示原點軌跡的起點上的截面平面 x 軸定向，且具有「自動」(Automatic) 水平/垂直控制功能。
• 選項
◦ 「封閉端」(Capped ends) 核取方塊 - 封閉掃描特徵的每一端。適用於具有封閉迴圈截面與開放軌跡的曲面掃描。
◦ 「合併端」(Merge ends) 核取方塊 - 將實體掃描特徵的末端連接至附近實體曲面，而不留下間隙。在下列情況下可用：掃描截面為恒定時、有一個開放的平面軌跡時、針對截面平面控制選取「法向於軌跡」(Normal To Trajectory) 時、針對水平/垂直控制選取「自動」(Automatic) 時、附近項目包括至少一個實體特徵時、掃描將幾何新增至現有主體時，以及軌跡端點與該相同主體的曲面重合時。
◦ 「草繪放置點」(Sketch placement point) - 在原點軌跡上指定要草繪截面的點。掃描的起點不受影響。如果「草繪放置點」(Sketch placement point) 是空的，則掃描的起點會成為草繪截面的預設位置。
• 「相切」(Tangency)
◦ 「軌跡」(Trajectories) - 顯示掃描特徵中軌跡的清單。
◦ 「參照」(References) - 控制具有相切軌跡的曲面。
▪ 「無」(None) - 禁用相切軌跡。
▪ 「側 1」(Side 1) - 掃描截面包含一條與軌跡側 1 的曲面相切之中心線。
▪ 「側 2」(Side 2) - 掃描截面包含一條與軌跡側 2 的曲面相切之中心線。
▪ 「所選」(Selected) - 手動指定掃描截面中相切中心線的曲面。
• 「主體選項」(Body Options)
當將特徵建立為實體時可用。
◦ 「向主體中新增幾何」(Add geometry to body) - 會在新增幾何時顯示。
▪ 「建立新主體」(Create new body) 核取方塊 - 在新主體中建立特徵。
▪ 主體收集器
▪ 當您將特徵新增至現有主體時，選取要將主體新增至的幾何。
▪ 當您在新主體中建立特徵時，顯示新主體的名稱。
◦ 「從主體中切除幾何」(Cut geometry from body) - 會在移除幾何時顯示。
▪ 「全部」(All) - 從特徵穿過的所有主體切除幾何。
▪ 「所選」(Selected) - 從所選主體切除幾何。
▪ 主體收集器 - 選取從中移除幾何的主體。
• 內容
◦ 「名稱」(Name) 方塊 - 設定掃描的名稱。
◦ 
- 在瀏覽器中顯示詳細元件資訊。
- 在瀏覽器中顯示詳細元件資訊。捷徑功能表
以滑鼠右鍵按一下圖形視窗可存取捷徑功能表指令。
• 
「實體」(Solid) - 從曲面幾何切換為實體。
「實體」(Solid) - 從曲面幾何切換為實體。• 
「曲面」(Surface) - 從實體幾何切換為曲面。
「曲面」(Surface) - 從實體幾何切換為曲面。• 
「移除材料」(Remove Material) - 沿掃描移除材料，以針對實體特徵建立切削，或針對曲面特徵建立面組裁剪。
「移除材料」(Remove Material) - 沿掃描移除材料，以針對實體特徵建立切削，或針對曲面特徵建立面組裁剪。• 「加厚草繪」(Thicken Sketch) - 將厚度新增至草繪，以建立加厚實體、加厚實體切削，或加厚曲面裁剪。
「加厚草繪」(Thicken Sketch) - 將厚度新增至草繪，以建立加厚實體、加厚實體切削，或加厚曲面裁剪。• 「恆定截面」(Constant Section) - 建立恒定截面掃描。截面不會在沿軌跡掃描時變更其形狀；只有截面所在之畫面的定向會變更。
「恆定截面」(Constant Section) - 建立恒定截面掃描。截面不會在沿軌跡掃描時變更其形狀；只有截面所在之畫面的定向會變更。• 「可變截面」(Variable Section) - 建立可變截面掃描。
「可變截面」(Variable Section) - 建立可變截面掃描。將截面限制為軌跡，或使用截面關係與 trajpar 參數來使草繪可變。 用來限制草繪的參照可改變截面形狀。草繪會沿著原點軌跡的點再生並相應更新其形狀。
• 
「草繪」(Sketch) - 開啟「草繪器」，以便您可以建立或編輯內部草繪。
「草繪」(Sketch) - 開啟「草繪器」，以便您可以建立或編輯內部草繪。• 
「封閉端」(Capped Ends) - 選取 「曲面」(Surface) 時，封閉特徵的每一端。
「封閉端」(Capped Ends) - 選取 「曲面」(Surface) 時，封閉特徵的每一端。• 
「合併端」(Merge ends) - 將實體掃描特徵的末端連接至附近實體曲面，而不留下間隙。在下列情況下可用：掃描截面為恒定時、有一個開放的平面軌跡時、針對截面平面控制選取「法向於軌跡」(Normal To Trajectory) 時、針對水平/垂直控制選取「自動」(Automatic) 時、附近項目包括至少一個實體特徵時、掃描將幾何新增至現有主體時，以及軌跡端點與該相同主體的曲面重合時。
「合併端」(Merge ends) - 將實體掃描特徵的末端連接至附近實體曲面，而不留下間隙。在下列情況下可用：掃描截面為恒定時、有一個開放的平面軌跡時、針對截面平面控制選取「法向於軌跡」(Normal To Trajectory) 時、針對水平/垂直控制選取「自動」(Automatic) 時、附近項目包括至少一個實體特徵時、掃描將幾何新增至現有主體時，以及軌跡端點與該相同主體的曲面重合時。• 「軌跡」(Trajectory) - 啟動「軌跡」(Trajectories) 收集器。
• 「開始 X 方向」(Start X Direction) - 啟動「在起點上的 X 方向參照」(X direction reference at start) 收集器。
• 「放置點」(Placement Point) - 啟動「草繪放置點」(Sketch placement point) 收集器。
• 清除 (Clear) - 清除活動的收集器。您無法清除原點軌跡參照或法向、x 和相切軌跡。
• 「法向於軌跡」(Normal To Trajectory) - 將移動畫面設定為始終法向於指定軌跡。
• 「法向於投影 (Normal to Projection) - 將移動畫面的 y 軸設定為平行於指定方向，將 z 軸設定為沿著指定方向與原始軌跡的投影相切。
• 「恆定法向」(Constant Normal Direction) - 將移動畫面的 z 軸設定為與指定方向平行。
• 「自動」(Automatic) - 將截面平面設定為以 xy 方向自動定向。
• 「草繪」(Sketch) - 開啟內部截面「草繪器」。
• 「恆定截面」(Constant section) - 指定沿著軌跡掃描截面時，截面的形狀不改變。
• 「可變截面」(Variable section) - 指定沿著軌跡掃描截面時，截面的形狀可改變。
• 「移除」(Remove) - 移除所選軌跡收集器的參照。您不能移除原點軌跡參照。不過，您可以藉由在圖形視窗中選取一個新的原點軌跡參照來取代它。
• 「下一曲面」(Next Surface) - 移到下一個法向曲面。
• 「選取主體」(Select bodies) - 啟動主體收集器，以便您可以選取主體。
• 「建立新主體」(Create new body) - 將特徵建立為新主體。
• 「全部」(All) - 從特徵穿過的所有主體移除幾何。
• 「所選」(Selected) - 從所選主體移除幾何。