關於針對 ECAD 前後關聯資料使用分析工具
您可使用「分析」(Analysis) 標籤中的指令對 ECAD 前後關聯資料執行快速分析。無法儲存 ECAD 前後關聯資料幾何的分析。將選取項篩選器設定為「ECAD 前後關聯資料幾何」(ECAD Context Data Geometry)，以協助資料選取。
下列「分析」(Analysis) 工具可用於 ECAD 前後關聯資料幾何：
• 量測 - 計算下列量測：
◦ 資料的長度
◦ 資料間的距離
◦ ECAD 前後關聯資料面組的區域
◦ 資料直徑
◦ 兩個資料圖元之間的角度
• 整體干涉 - 檢查是否可對屬於組件中不同 ECAD 模型的 ECAD 前後關聯資料面組執行之間干涉。不會偵測相同電路板上的這些面組之間的干涉。欲在分析中包括 ECAD 前後關聯資料面組，請按一下「整體干涉」(Global Interference) 對話方塊中的「包括導體面組」(Include conductor quilts) 核取方塊。
• 「對間隙」(Pairs Clearance) - 檢查屬於組件中不同 ECAD 模型之 ECAD 前後關聯資料面組間的間隙。欲檢查面組對之間的間隙，請針對「從」(From) 與「到」(To) 元件按一下「對間隙」(Pairs Clearance) 對話方塊中的「全部導體面組」(All conductor quilts) 核取方塊。
如需有關「分析」指令的詳細資訊，請搜尋「說明中心」。