提供了一个新的公差分析解决方案。

用户界面位置：单击“应用程序”(Applications) > EZ Tolerance Analysis。

版本：Creo Parametric 7.0.0.0

观看 Learning Connector 上的视频。

您的设计可能需要分析一维 (1-D) 公差叠加。借助此信息，您可以确保所关注的特定区域保持在设计的可接受机械拟合和性能变化范围内。

Creo EZ Tolerance Analysis 是由 Sigmetrix 开发的全新应用程序，可用于创建和管理多个一维公差叠加分析，其过程比较早版本的 TAE 更加轻松。

在定义一维叠加时，请先设置要评估的区域。EZ Tolerance Analysis 随后将考虑现有模型中 1–D 叠加的相关元件、曲面、装配约束和 GD&T (几何建模和公差)。然后，在图形窗口中，元件将突出显示，以便您看到所创建的公差环。

您无需再手动定义叠加环。如果您想要手动进行定义，或未找到合适的模型约束路径，那么可使用该应用程序基于透明度的增强指导来轻松定义叠加环路径。

定义完叠加后，会生成一个一览表表格。该表汇总了叠加的详细信息。然后，您可以设置您想要用于分析的统计质量指标。完成叠加分析后，您可将其导出或生成具有嵌入快照，以及叠加、结果和贡献图的完整 HTML 报告。

在较为复杂的情况下，一维叠加分析可能不足以满足要求。这是因为设计可能需要考虑到生产过程中的其他可变因素。Creo EZ Tolerance Analysis 对此类情况进行了标记并建议执行高级分析以便更好地了解设计的反应情况。

Creo EZ Tolerance Analysis 不再使用需手动输入且可能因此导致错误的电子表格。

在早期版本的 Creo Parametric 中，Tolerance Analysis Extension 和 Creo EZ Tolerance Analysis 均可用。在 Creo Parametric 7.0.0.0 及更高版本中，仅 Creo EZ Tolerance Analysis 可用，TAE 已弃用。要将旧式 TAE 数据转换为 Creo EZ Tolerance Analysis，请在 EZ Tolerance 选项卡上，单击“转换 TAE”(Convert TAE) 以导入 Tolerance Analysis Extension 数据。