Unterstützung des Such-Tools zur Auswahl von Flächen, die mit Muster-KEs verknüpft sind
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Suchen (Find). Das Dialogfenster Such-Tool (Search Tool) wird geöffnet.
Suchen (Find). Das Dialogfenster Such-Tool (Search Tool) wird geöffnet.• Wählen Sie in der Liste Suchen nach (Look for) die Option Fläche (Surface) aus.
• Wählen Sie in der Liste Suchen über (Look by) die Option KE-Muster (Feature Pattern) aus.
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Beschreibung
Diese Verbesserung unterstützt eine neue Such-Tool-Abfrage, die das Sammeln aller Flächen ermöglicht, die einem Muster-KE zugeordnet sind. Diese Abfrage wird mit den folgenden Suchattributen aktiviert:
• Suchen nach: Fläche (Look For: Surface)
• Suchen über: KE-Muster (Look By: Feature Pattern)
Die KE-Muster können entweder über ihre ID oder über benutzerdefinierte Namen identifiziert werden. Darüber hinaus kann die Abfrage mit der Option Abfrage in KE speichern (Save Query to Feature) in einem Bezugsreferenz-KE (DRF) gespeichert werden. Bei der Regenerierung werden die Abfrageergebnisse automatisch innerhalb des Referenzbezugssystems aktualisiert, das als Eingabe für nachgeschaltete KEs dienen kann, z.B. Anmerkungen für MBD.
Vorteile
Geringerer Zeitaufwand für die manuelle Auswahl von Flächen, die zu einem Muster gehören
Weitere Informationen
Tipps: | Keine. |
Einschränkungen: | Die folgenden Muster werden von dieser Verbesserung nicht unterstützt: • KEs mit mehreren Bohrungen, die mit einer skizzierten Platzierung erzeugt wurden • Mustererkennungs-KEs • Muster von Materialschnitt-KEs auf Baugruppenebene • Muster der Komponenten Für die ersten drei Punkte kann das von diesen KEs generierte Absichtsflächenobjekt direkt verwendet werden. |
Ersetzt dies vorhandene Funktionalität? | Nein. |
Konfigurationsoption für diese Funktionalität: | Keine. |