選取連結至陣列特徵之曲面的搜尋工具支援
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使用者介面位置: > 。「搜尋工具」(Search Tool) 對話方塊隨即開啟。
• 選取「尋找」(Look for) 清單中的「曲面」(Surface)。
• 選取「尋找依據」(Look by) 清單中的「特徵陣列」(Feature Pattern)。
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描述
此強化功能支援新搜尋工具查詢,其可讓您收集與陣列特徵相關聯的所有曲面。您可以使用下列搜尋屬性啟用此查詢:
• 「尋找」(Look For):「曲面」(Surface)
• 「尋找依據」(Look By):「特徵陣列」(Feature Pattern)
您可以透過特徵陣列的 ID 或使用者定義的名稱來識別特徵陣列。此外,您可以使用「儲存查詢至特徵」(Save Query to Feature) 選項將查詢儲存至「基準參照特徵」(DRF)。再生時,會在 DRF 內自動更新查詢結果,並可將其作為下游特徵的輸入,例如 MBD 的註釋。
優點
花在手動選取屬於陣列的曲面上的時間更少。
其他資訊
秘訣︰ | 無。 |
限制︰ | 此強化功能不支援下列陣列: • 以草繪放置建立的多孔特徵 • 陣列辨識特徵 • 組件層級切削特徵的陣列 • 元件的陣列 對於前三點,可以直接使用由這些特徵產生的意圖曲面物件。 |
這是否會取代現有功能? | 否。 |
與此功能相關聯的組態選項: | 無。 |