Упрощено определение анализа при анализе электрических зазоров и путей утечки
В модуле Clearance and Creepage Analysis (CCX) введен новый интерфейс пользователя для определения анализа.
Расположение в интерфейсе пользователя: щелкните Анализ (Analysis) > Анализ электрических зазоров и путей утечки (Clearance and Creepage Analysis).
Выпуск: Creo Parametric 5.0.0.0.
Просмотрите видео, которое демонстрирует это расширение:
В чем преимущество этого расширения?
Для определения расстояний зазоров и путей утечки используются стандартные таблицы. Модуль CCX применяет расстояние зазора, пути утечки и ширины разделки, соответствующее напряжению, определенному на вкладке Электрические цепи (Electric Nets). Можно определить число ядер, которые будут использоваться для анализа, чтобы повысить производительность анализа. Можно также управлять расстоянием выборки для анализа зазоров и путей утечки. Максимальная ошибка анализа равна одной десятой введенного значения и позволяет повышать точность за счет снижения скорости.
Дополнительная информация
Советы: | Нет |
Ограничения: | Нет известных ограничений. |
Заменяет ли это существующую функциональность? | Это новая функциональность. |
Опции конфигурации, связанные с этой функциональностью: | Нет |