가져온 면처리 데이터 분석 정보

기준 피쳐를 생성하기 위해 면처리 데이터의 면, 모서리 및 정점을 참조할 수 있습니다. 또한 면처리 데이터의 질량 특성을 계산하고 면처리 데이터를 측정에 사용할 수 있습니다.

모델 보고서(Model Report) 탭에서 분석(Analysis) > 질량 특성(Mass Properties) > 질량 특성(Mass Properties)을 클릭하고 질량 특성(Mass Properties) 대화상자를 사용하여 면처리 데이터의 질량 특성을 분석할 수 있습니다. 면처리 데이터의 면, 모서리 및 정점을 참조하여 분석 피쳐를 생성할 수 있습니다.

측정(Measure) 탭에 있는 다음 명령을 사용하여 다양한 측정 작업을 수행할 수 있습니다.

• 거리(Distance) - 선택한 첫 번째 참조 엔티티에 대한 거리를 측정합니다. 거리 측정을 위한 면 페이스, 면 모서리 및 면 교점을 선택합니다.

• 각도(Angle) - 선택한 두 엔티티 사이의 각도를 측정합니다. 각도 측정을 위한 면 페이스와 면 모서리를 선택합니다.

• 영역(Area) - 개별 면처리 피쳐의 서피스 영역 전체를 측정합니다. 개별 면처리 B-표현을 선택합니다. 단일 면 페이스나 면 페이스 그룹은 선택할 수 없습니다. 가져오기 피쳐의 전체 면처리 B-표현만을 선택할 수 있습니다.

거리와 각도 측정을 계산하려면 유효한 면처리 참조의 조합을 선택해야 합니다. 또한 면처리 참조를 정확한 형상 참조와 혼합할 수 있습니다. 예를 들어, 면 페이스와 기준면 또는 솔리드 서피스 간의 거리를 측정할 수 있습니다.

거리 측정의 경우 면 페이스와 면 모서리는 무한 평면과 축으로 처리됩니다. 평행하지 않은 면 페이스나 평행하지 않은 동일평면상 면 모서리 간의 거리를 측정하면 값 0이 반환됩니다. 이 동작은 정확한 형상의 유한 서피스와 모서리를 선택할 때 발생하는 동작과는 다릅니다. 정확한 형상의 유한 서피스와 모서리를 선택할 때는 이러한 엔티티가 측정을 위해 유한 엔티티로 처리(물리적으로 닿지 않으면 거리가 0이 아님)됩니다.