TAE での累積のインポートに関する制限事項

以下に、Tolerance Analysis Extension (TAE) の測定または累積をインポートする際の制約に関連する、TAE と「EZ Tolerance Analysis」の両アプリケーション間の違いを説明します。

• 累積ループを定義するには、部品からパラメトリック寸法または被駆動寸法を選択する必要があります。「EZ Tolerance Analysis」アプリケーションでは別のワークフローが使用され、このワークフローではフィーチャーを使用して累積ループが定義され、寸法は選択したフィーチャーから取得されます。

EZ Tolerance では、フィーチャーを寸法にマッピングするワークフローを実装するよりも、等価な累積を定義する方が簡単です。EZ Tolerance Analysis 内で作成された累積と比較すると、インポートされた TAE 累積には編集オプションがありません。

• TAE では、部品間にクリアランスがある場合に、バイアスオプションで「左」(left) および「右」(right) という用語が使用されます。たとえば、累積の変化に寄与するクリアランス穴のボルトがこれに該当します。EZ Tolerance Analysis では、部品ループを任意の方向に定義して表示できるので、「最小化」(Minimize) と「最大化」(Maximize) という用語が使用されます。

同様に、これらのインタフェースで「中央揃え」(Centered) の選択が可能な TAE とは異なり、「EZ Tolerance Analysis」では、たとえば圧入ばめのように、サイズフィーチャーに常に干渉がある場合には中央揃えの条件が考慮されます。

EZ Tolerance Analysis によってクリアランスが検出された場合、TAE の「中央揃え」(Centered) オプションは、EZ Tolerance Analysis では「浮動」(Floating) に変わります。ただし、制限公差を使用して公差を調整することで、干渉の結果が中央揃えの条件になるように範囲を定義できます。

これらのシナリオでは、TAE と EZ Tolerance Analysis の結果が異なる場合があります。EZ Tolerance Analysis では、「インポートの警告」(Import Warning) ダイアログボックスに、すべてのアセンブリバイアスを検証する必要があるという警告が表示されます。

• TAE では、仮想コンポーネント機能にはアセンブリモデルでの寸法アノテーションの追加が含まれます。「EZ Tolerance Analysis」では、部品間のオフセットを使用する同等な機能が制限付きでサポートされていますが、このアプリケーションでは、累積の開始または終了フィーチャーに対する寸法を含む、複数の連続するアセンブリレベルの寸法はサポートされません。

• TAE では、実体状態修正子 (MMC と LMC) の効果は結果に含まれないので、「EZ Tolerance Analysis」にはそのような効果が含まれます。インポートされる TAE 解析測定に実体修正子が含まれている場合は常に、結果が異なることを知らせるメッセージが表示されます。

• TAE では解析のすべての寸法が Creo Parametric モデルファイルに含まれている必要があるので、「EZ Tolerance Analysis」では、インポート時にすべての寸法がリンクされているものと見なされます。必要に応じて、EZ Tolerance Analysis の累積をリンク解除したりリンクしたりすることができます。

• 解析フィーチャーは「EZ Tolerance Analysis」ではサポートされていません。ただし、TAE で作成されたフィーチャーは、関連した解析がインポートされるときに更新されます。これは、「EZ Tolerance」タブで公差値を変更した場合にも当てはまります (寸法が「EZ Tolerance Analysis」内で引き続きリンクされていることを前提として)。

• その他の制限事項は次のとおりです。

◦ 幾何公差のデータムフィーチャーは「EZ Tolerance Analysis」には表示されません。

◦ 基準距離は表示されますが、寸法ループは生成されません。累積詳細テーブルで寸法上にポインタを置くか、寸法を選択すると、グラフィックウィンドウで関連する寸法がハイライトされます。

◦ 「EZ Tolerance Analysis」では、可能性のある有効な 2D および 3D 効果を確認できません。