已改善點陣列工作流程
已改善需要定義替代原點時的點陣列工作流程。
使用者介面位置：按一下「模型」(Model) > 「陣列」(Pattern)。
發行版本：Creo Parametric 5.0.0.0
觀看用於示範此強化功能的視訊：
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PTC Learning Connector 上觀察此視訊：
已改善點陣列工作流程此強化功能的優點是什麼？
已改善需要定義替代原點時特徵陣列的點陣列工作流程，例如以下所列範例：
• 參照點陣列點之傾斜曲面上螺紋孔特徵的點陣列
• 參照點陣列點、以草繪為基礎之特徵的點陣列
當您在陣列定義期間指定陣列點陣列時，會自動偵測典型的替代原點。如果點陣列中的某個點由陣列導引件參照，則此點會自動設定為替代原點參照。「使用替代原點」(Use alternate origin) 收集器即會出現在「陣列」(Pattern) 標籤上。套用自動偵測時，您可以看到「使用替代原點」(Use alternate origin) 收集器會自動填充。此強化功能為點陣列工作流程提供了更智慧的預設解決方案，並可協助您正確定義點陣列特徵。
其他資訊
秘訣︰ | 欲瞭解有關此強化功能的背景和之前使用此強化功能解決的問題的詳細資訊，請參閱支援文章 CS152954。 |
限制︰ | 此工作流程僅適用於特徵的點陣列。您可能要視需要為幾何陣列與彈性陣列明確設定「使用替代原點」(Use alternate origin) 收集器。沒有點陣列特徵參照。 |
這是否會取代現有功能？ | Creo Parametric 4.0「陣列」(Pattern) 使用者介面。 | | Creo Parametric 5.0.0.0「陣列」(Pattern) 使用者介面。「使用替代原點」(Use alternate origin) 收集器不再位於「選項」(Options)下。 | |
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與此功能相關聯的組態選項： | 無。 |
