變體圖可顯示量測的算術累積範圍和幾何累積分佈。您可使用變體圖的捷徑功能表以關閉隨機或算術累積圖。

量測規格限值與目標值皆為使用者指定的值。這些值可用來定義設計的量測需求。幾何累積誤差以幾何累積分佈來表示。Creo Tolerance Analysis powered by CETOL Technology 支援三種分佈類型：「常態」、「均勻」與 Lambda。分佈動差視分佈型態而定，分佈型態則是按最適標準來決定。針對大多數的實際問題，結果都會以常態或 lambda 分佈呈現。

下表顯示了可用於計算品質度量的方程式。

先計算第一時間 dpo (每單位機會不良率)，然後找出第一時間 dpo 相同的單側 Z 分數，從而計算「標準差」的值。單側 Z 分數是常態分佈的單側限制值，其平均數等於零，標準差等於一。