在间隙和漏电距离分析中定义元数据变得更为容易
Clearance and Creepage Analysis (CCX) 中具有用于定义元数据的新用户界面。
用户界面位置：单击“分析”(Analysis) > “间隙和漏电距离分析”(Clearance and Creepage Analysis)。
版本：Creo Parametric 5.0.0.0。
请观看演示此增强功能的视频：
您也可以在
PTC Learning Connector 观看此视频：
在间隙和漏电距离分析中定义元数据得到简化此增强功能的优点是什么？
您可以单击右键访问图形区域和对话框中的快捷菜单。这可以节省时间并提高性能。在图形区域和对话框中选择多项时也可以单击右键。您可以隔离图形区域中未分配 CTI 值的零件，并突出显示基于传导率的零件。这简化了元数据设置的验证。
附加信息
提示： | 无 |
限制： | 无已知限制。 |
其是否替换了现有功能？ | 该功能为新功能。 |
与此功能相关的配置选项： | 无 |